Escrito originalmente por Keiper
Hola, Estoy realizando un programa de adquisición utilizando el A/D del PIC 16F876 y la configuración que utilizo es setup_adc( ADC_CLOCK_INTERNAL);
El cristal que utilizo es de 4Mhz, mi pregunta es, que periodo de muestreo estoy obteniendo?
El problema que me surge es que no me muestrea lo suficiente rápido.
Hay algun modo de muestrear a más velocidad?
Cambiando el cristal o mediante la configuración interna?
Gracias.
Si, hay varias cosas que puedes hacer
1) SI mantienes tu cristal de 4Mhz, pon al A/D en modo 8Tosc, tendrás un TAD de unos 2useg. Sabiendo que en 11Tad tendrás el dato, esto llevará unos 22 useg.
2) Cambiar el cristal agilizará la conversión, si usas uno de 20Mhz la conversión será mas veloz (fijate en el datasheet, lleva 11Tad hacer una conversion) pero tendrás que poner el modo 32Tosc. Esto dará un Tad de 1.6useg , lo cual llevará a 17,6 useg por conversion.
3) Utilizar una impedancia más pequeña en la entrada del A/D (usando un operacional por ejemplo) para agilizar el muestreo del capacitor interno del conversor.
Ahora bien, podrías exponer que velocidad aproximadamente deseas obtener? y cual estas teniendo que te es insuficiente?